掃描電化學(xué)顯微系統（SECM）
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統（ic-SECM）
微區電化學(xué)阻抗測試系統(LEIS)
掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測試系統（SVET）
電解液微滴掃描系統（SDS）
交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）
掃描開(kāi)爾文探針測試系統（SKP）
非觸式微區形貌測試系統（OSP）
Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站出色的性能：
1、快速精準的閉環(huán)定位系統為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設計。
2、結合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶(hù)可以選擇合適實(shí)驗研究的最佳配置。
3、先進(jìn)和靈活的工作平臺。
4、系統可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為全球最靈活的電化學(xué)掃描灘鎮工作平臺。
5、全面的附件。
6、7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長(cháng)距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。
Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站特征：
1、SECM自動(dòng)處理曲線(xiàn)
2、SECM用戶(hù)自定義處理曲線(xiàn)步長(cháng)變化
3、高分辨率讀取
5、手動(dòng)或自動(dòng)調節相位
Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站同時(shí)具備如下特點(diǎn)：
1、傾斜校正.
2、X或Y曲線(xiàn)相減（5階多項式）。
3、2D或3D快速傅里葉變化。
4、實(shí)驗，探針移動(dòng)和區域繪圖的自動(dòng)排序。
5、圖形實(shí)驗測序引擎（GESE）。
6、支持多區域掃描。
7、所有實(shí)驗多個(gè)數據視圖。
8、峰值分析。
Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站是由Uniscan儀器開(kāi)發(fā)的第四代掃描探針系統，具有更高規格和更多探針技術(shù)。
Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站技術(shù)參數
工作站（所有技術(shù)）
掃描范圍（x,y,z）：大于100mm
掃描驅動(dòng)分辨率 ：最高0.1nm
閉環(huán)定位：線(xiàn)性零滯后編碼器，直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移
軸分辨率（x,y,z）：20nm
最大掃描速度：12.5mm/s
測量分辨率 ：32-bit解碼器@高達40MHz
壓電（ic-和ac-掃描探針技術(shù)）
振動(dòng)范圍：20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動(dòng)分辨率：0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展：100μm
定位分辨率 ：0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機電
掃描前端：500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元：275×450×400mm(H×W×D)
功率：250W
